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西森 信行; 羽島 良一; 永井 良治
Free Electron lasers 2003, p.II_21 - II_22, 2004/00
共鳴エネルギーを持つ電子と自由電子レーザー(FEL)との相互作用ではゲインが0となるため、ゲインを得るには共鳴エネルギーよりわずかに高いエネルギーで入射する必要があることはMadey理論として知られている。一方で、FELパラメーターの大きい(波長単位での電子密度が高い)FELでは、共鳴エネルギーでもゲインを持つことが、collective instabilityとして知られている。FELとの相互作用で波長単位でバンチされた電子と、FELが相互作用することにより生じるFELの位相シフトから、この一見相反する2つの事実を説明できる。
沢村 勝; 羽島 良一; 菊澤 信宏; 峰原 英介; 永井 良治; 西森 信行
Free Electron lasers 2003, p.II_31 - II_32, 2004/00
エネルギー回収型FELにおいて、周回電子ビームが軌道中心からずれると横方向の高調波を励起し、周回ビームと高調波が同期してしまうと高調波が増幅され、電子ビームが横方向にキックされビームが不安定になる恐れがある。そこで、原研超伝導リニアックFELのHOM特性を調べるとともに、横方向HOMによるビーム不安定性を調べる数値解析コードを開発し、電流制限は数A以上と十分大きいことがわかった。さらに空洞内で励起されている各高調波の周波数,パワーを詳細に解析することにより、エネルギー回収時に強く励起されるモードを特定し、計算結果と比較することによりHOM不安定性を詳細に分析した。
関口 哲弘; 馬場 祐治; 下山 巖; Nath, K. G.
Free Electron lasers 2003, p.II_69 - II_70, 2004/00
強い自由電子レーザー(FEL)の出現によりこれを照射光源とした光化学反応や光電子顕微鏡など「2次過程」を利用した分光研究が行われはじめ注目を集めている。特にFELのパルス特性は飛行時間質量分析法を使ううえで非常に有利な特性である。軟X線を固体表面に照射すると表面を構成する分子などが解離しフラグメントイオンとして脱離する。フッ素化した高配向性グラファイト材料を試料としてパルス放射光軟X線と飛行時間質量分析を組合せた照射実験に関して報告する。特に入射するX線の偏光角度を変えることにより特定の結合角度を持つ吸着分子を選択的に励起し、さらに脱離分子の運動エネルギー分布の測定を行うことによりフラグメント脱離の機構を調べた。通常の電子収量法によるNEXAFSスペクトルの偏光角度依存性,イオン収量法による方法,XPSスペクトルから得られる表面構造についても報告する。